<?xml-stylesheet type="text/xsl" href="https://e2e.ti.com/cfs-file/__key/system/syndication/rss.xsl" media="screen"?><rss version="2.0" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/" xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"><channel><title>評価モジュールを使用してオペアンプ容量性負荷を安定させる3つの方法</title><link>/blogs_/japan/b/analog/posts/669740</link><description>容量性負荷は、 オペアンプ 回路を不安定化させる原因となり、結果として大きなオーバーシュートや、リンギング、設定時間の遅延を引き起こす可能性があります。ひどい場合には、持続的振動を引き起こします。これらの問題が生じる原因は、容量性負荷がオペアンプ出力インピーダンスに相互作用し、オープン・ループ・ゲイン（Aol）応答で新たなポールを形成し、ループゲイン（Aol*β）位相マージンを許容範囲以下に低下させるためです。
ビデオ「 TI プレシジョン・ラボのオペアンプ安定性について 」など、多くのリソー.</description><dc:language>en-US</dc:language><generator>Telligent Community 13</generator></channel></rss>