/blogs_/japan/b/power-ic/posts/669960高性能の試験・測定機器を製作する際に、基板にどこから電源が供給されるかについて考えることはあまりないでしょう。しかし、信じ難いかもしれませんが、電源は、その供給先となる高性能な逐次比較型（SAR）A/Dコンバータ（ADC）の性能に多大な影響を与える場合があるのです。電磁気干渉（EMI）に対して最適化された電源を使用することは、データ収集システム、半導体試験機器、スペクトル・アナライザ、オシロスコープなどさまざまなアプリケーションで非常に重要な要件となることがあります。 標準的な降圧コンバータの代en-USTelligent Community 13