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MSP430:F5528 JTAGポートの処理

Other Parts Discussed in Thread: MSP430F5528, MSP-FET

MSP430F5528で、JTAG線を接続していないときのPJポート処理について教えてください。

PJポートはJTAG線を接続していない時は回路上でプルアップ、プルダウンしていません。

このとき、リファレンスマニュアルにあるデフォルトの入力ハイインピーダンスだと、リーク電流が発生してしまうのでしょうか?

また、リーク電流が発生する場合、PJDIR, PJOUTを変更して出力Loに設定するのがよいのでしょうか?

  • UG slau208p table 1-3. Connection of Unused Pins に JTAG pin PJ.0~.3 open と説明が有ります。

    だいたいどのデバイスでも、「unused pin」 で探すとこの表が見つかります。

    E2E Japan JTAGインターフェイス のトラブル回避 に信号の解説をしています。
    JTAG信号はデバイス内部で、必要なpull-up,pull-downがされていますので、openでOKです。

    また、Port IO として設定しても、JTAGエミュレータを接続すると、JTAGに強制的に切り替わります。

    **解決しましたら、ログインして verify をクリックお願いします。

  • しばらく時間が経過してしまいましたが、もう一度質問させてください。

    ご回答いただいた内容の通り、JTAGポートを、JTAG線を接続していない時はフローディングにしているのですが、その状態で基板のJTAG接続部分に手を近づけると、Agilentのマルチメータでマイコン消費電流を見ると100uA程上昇してリークが発生しているように見えます。
    MSP-FETをJTAG接続して、MSP-FETでマイコン消費電流計測すると、JTAG接続部分に手を近づけても消費電流に変化はありません。

    JTAGポートにリークが発生していて、ソフト制御でPJDIR, PJOUTを変更する必要があるように感じるのですが、フローディングで確実に大丈夫なのでしょうか?
  • 1 JTAG信号のpull-down/up

    ・ JTAG信号のpull-down/pullupは誤動作防止のためです。

    ・ data-sheetの 5.49 JTAG and Spy-Bi-Wire Interface に TEST の
     pull-down 抵抗値が記載あります。
     TYP60KΩですから、静電気試験など、意図的に大きなノイズをかけて動作試験するときは、
     外部pull-downで調整をするケースもあります。


    2 リーク

    ・ どのpinからどういう経路でリークしているか、それがシステムとしてどういう影響を持つのか
     (誤動作を起こす?消費電流が増える?)を調べる必要が有ると思います。
    ・ JTAG信号のリークが気になるようであれば、Port出力に変えてください。
     data-sheet Table 6-61. Port PJ (PJ.0 to PJ.3) Pin Functions
     **ただし、TESTpinがHになると、強制的にJTAGに切り替わります。