作者:德州儀器Arianna Rajabi

 

物理學進展早已超越矽裝置的發展。過去,傳統供電主力是以整合式雙金屬氧化物半導體場效應電晶體(MOSFETs)和絕緣柵雙極電晶體(IGBTs)為主,不過若欲提高功率密度,則必須犧牲效能、形狀因素及散熱能力(efficiency, form factor and heat dissipation)。

直到氮化鎵(GaN)半導體問世。其大幅提高處理電力電子設備的速度,同時能更有效率地為高壓應用提供電力。並且,氮化鎵具備高切換能力,意味著它能在高壓環境中,以少量元件來實現高效率的電力轉換,如圖一所示。氮化鎵半導體為AC/DC供電應用,比如5G通訊電源和伺服器運算,提供新型供電和轉換系統等支援。氮化鎵的問世不斷地拓展了各種應用領域的極限,開始在汽車、工業、可再生能源等市場中,漸漸取代傳統矽基電力解決方案。

圖一:矽設計與GaN設計的磁功率密度比較

 

GaN FET:新整合場域

大規模資料中心、企業級伺服器、電信交換中心消耗龐大電力。在這些電力系統中,由於FET和閘極驅動器的處理技術不同,通常得各自封裝,也產生額外寄生電感。

除了封裝較大,也會限制GaN在高轉換率的切換表現,反觀德州儀器的LMG3425R030等GaN FET內建閘極驅動器,能在150 V/ns轉換率時將寄生電容降至最低,且相較於分離式GaN FET,損耗可減少66%,亦可改善電磁干擾情況,內建閘極驅動器的TI GaN FET,如圖二所示。

圖二:整合 600-V GaN FET、閘極驅動器、短路保護

 

在數據中心與伺服器農場中,德州儀器新GaN FET的拓樸較簡單,例如圖騰柱功率因數矯正,可降低轉換損耗、簡化熱能設計、縮小散熱片,在尺寸相同的1U機架式伺服器中,相較於矽 MOSFET,這些裝置的功率密度可加倍,並達到99%效能。若考量長期影響,如此的功率密度及效能格外重要,若伺服器農場安裝GaN裝置後, AC/DC效能每月提升3%,且每天轉換30 kW電力,每個月即可節省27 kW,相當於每月省下約2000美元、每年24000美元。

GaN FET若整合電流限制及過溫偵測,可避免直通電流或熱失控發生,系統介面訊號亦有助於自我監測。

可靠性是電力電子重要因素,相較於傳統串列及獨立GaN FET,高度整合的GaN裝置運用功能及保護機制,能有效提高可靠性,並優化高電壓供電表現。

若使用外部驅動器,寄生電感會造成切換損耗,在高GaN頻率時,也會產生振鈴及可靠性問題,共源電感大幅增加開通損耗,且在高轉換率時設計完善的過電流保護電路既困難又昂貴,但由於GaN並無本體二極體,因此能在切換節點減少振鈴,也排除反向恢復損耗。

 

具保護功能的GaN裝置

GaN裝置結構與矽裝置大不相同,雖然切換速度更快,在表現及可靠性方面仍有特殊難題,且使用分離式GaN裝置時,也會出現設計簡化及物料清單成本等議題。

新工業級600-V GaN裝置系列整合GaN FET、驅動器、 30- 及 50-mΩ功率級保護功能,為sub-100 W 到 10 kW 的應用提供單晶片解決方案,LMG3422R030LMG3425R030LMG3422R050LMG3425R050 GaN裝置專為高功率密度及高效能應用設計。

相較於矽MOSFET,GaN在第三象限運作「類二極體」,並藉由減少電壓降來縮小空滯時間,TI的LMG3425R030LMG3425R050 的理想二極體模式,可進一步在輸電應用的損耗,更多資訊請見應用筆記「運用理想二極體模式放大GaN表現」。

這些GaN裝置經過4000萬小時的可靠性測試,包括加速及應用內硬式切換測試,都是在最大功率、電壓、溫度環境下,進行高速切換條件測試。

 

結論

切換電源設計師不斷試圖提升功率密度及效能,雖然矽MOSFET及IGBT提供低功率密度及效能,碳化矽(SiC)裝置能以更高成本達到更高功率密度及效能。

 GaN裝置結合最佳超接合面FET之後,解決方案的功率密度可加倍,並符合伺服器及電信應用的80 Plus Titanium超高供電效能標準。

 GaN能為電力電子領域翻轉局面,但也需要完善流程及材料工程,包括高品質GaN晶體、優化介電薄膜,並在製造過程創造非常乾淨的介面,當然也需要精細的測試和封裝。

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